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Microscopía Avanzada: Técnicas AFM, STM, SEM, TEM, Raman y Fabricación Top-Down/Bottom-Up

Comparación de AFM y otras técnicas de imagen

  1. AFM vs STM: STM tiene mejor resolución que AFM debido a la dependencia exponencial de la corriente de túnel con la distancia. La relación fuerza-distancia es más compleja en AFM, resultando en resoluciones inferiores según el tipo de muestra. STM es aplicable a muestras conductoras, mientras que AFM es más versátil, aplicable a conductores, semiconductores y aislantes.
  2. AFM vs SEM: AFM realiza medidas directas de la altura con un gran contraste Seguir leyendo “Microscopía Avanzada: Técnicas AFM, STM, SEM, TEM, Raman y Fabricación Top-Down/Bottom-Up” »